Evidence of SiSiGe heterojunction roughness scattering

C. W. Liu, M. H. Lee, Y. C. Lee, P. S. Chen, C. Y. Yu, J. Y. Wei, S. Maikap

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

4 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋 深入研究「Evidence of SiSiGe heterojunction roughness scattering」主題。共同形成了獨特的指紋。

Physics & Astronomy