Evidence of SiSiGe heterojunction roughness scattering

C. W. Liu*, M. H. Lee, Y. C. Lee, P. S. Chen, C. Y. Yu, J. Y. Wei, S. Maikap

*此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審

4 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Evidence of SiSiGe heterojunction roughness scattering」主題。共同形成了獨特的指紋。

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