ESD protection design for wideband RF applications in 65-nm CMOS process

Li Wei Chu, Chun Yu Lin, Ming Dou Ker, Ming Hsiang Song, Jen Chou Tseng, Chewn Pu Jou, Ming Hsien Tsai

研究成果: 書貢獻/報告類型會議論文篇章

1 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「ESD protection design for wideband RF applications in 65-nm CMOS process」主題。共同形成了獨特的指紋。

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