ESD protection design for wideband RF applications in 65-nm CMOS process
Li Wei Chu, Chun Yu Lin, Ming Dou Ker, Ming Hsiang Song, Jen Chou Tseng, Chewn Pu Jou, Ming Hsien Tsai
研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章
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引文
斯高帕斯（Scopus）