ESD protection design for high-speed applications in CMOS technology

Jie Ting Chen, Chun Yu Lin, Rong Kun Chang, Ming Dou Ker, Tzu Chien Tzeng, Tzu Chiang Lin

研究成果: 書貢獻/報告類型會議論文篇章

4 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「ESD protection design for high-speed applications in CMOS technology」主題。共同形成了獨特的指紋。

INIS

Physics

Material Science

Engineering