跳至主導覽 跳至搜尋 跳過主要內容

Electrical properties correlated with redistributed deep states in a-Si:H thin-film transistors on flexible substrates undergoing mechanical bending

  • M. H. Lee*
  • , B. F. Hsieh
  • , S. T. Chang
  • *此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

10   連結會在新分頁中開啟 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Electrical properties correlated with redistributed deep states in a-Si:H thin-film transistors on flexible substrates undergoing mechanical bending」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

INIS

Engineering

Material Science