Electrical properties correlated with redistributed deep states in a-Si:H thin-film transistors on flexible substrates undergoing mechanical bending

M. H. Lee*, B. F. Hsieh, S. T. Chang

*此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審

10 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Electrical properties correlated with redistributed deep states in a-Si:H thin-film transistors on flexible substrates undergoing mechanical bending」主題。共同形成了獨特的指紋。

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