Effect of focused ion beam deposition induced contamination on the transport properties of nano devices
- Yann Wen Lan
- , Wen Hao Chang
- , Yuan Chih Chang
- , Chia Seng Chang
- , Chii Dong Chen
研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審
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引文
斯高帕斯（Scopus）