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Divergent dielectric characteristics in cascaded high-K gate stacks with reverse gradient bandgap structures

  • Meng Chen Tsai
  • , Po Hsien Cheng
  • , Min Hung Lee
  • , Hsin Chih Lin
  • , Miin Jang Chen

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

3   連結會在新分頁中打開 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Divergent dielectric characteristics in cascaded high-K gate stacks with reverse gradient bandgap structures」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

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