Design of embedded SCR device to improve ESD robustness of stacked-device output driver in low-voltage CMOS technology
Chun Yu Lin*, Yan Lian Chiu
*此作品的通信作者
研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審
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引文
斯高帕斯（Scopus）