Design of compact ESD protection circuit for V-band RF applications in a 65-nm CMOS technology

Chun Yu Lin*, Li Wei Chu, Shiang Yu Tsai, Ming Dou Ker

*此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

5 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Design of compact ESD protection circuit for V-band RF applications in a 65-nm CMOS technology」主題。共同形成了獨特的指紋。

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