Comprehensive Low-Frequency and RF Noise Characteristics in Strained-Si NMOSFETs

M. H. Lee^*, P. S. Chen, W. C. Hua, C. Y. Yu, Y. T. Tseng, S. Maikap, Y. M. Hsu, C. W. Liu, S. C. Lu, W. Y. Hsieh, M. J. Tsai

^*此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻 › 會議論文 › 同行評審