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Comparative study of Ni ultrathin film grown on Pt(110)-(1 x1) and -(1 x2) at 130 K
J. S. Tsay
,
Tsy Yi Fu
, P. S. Tsai,
C. S. Shern
物理學系
研究成果
:
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同行評審
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指紋
指紋
深入研究「Comparative study of Ni ultrathin film grown on Pt(110)-(1 x1) and -(1 x2) at 130 K」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
INIS
surfaces
100%
growth
100%
thin films
100%
low energy electron diffraction
66%
curves
33%
nickel
33%
auger electron spectroscopy
33%
uptake
33%
Chemistry
Surface
100%
Ultrathin Film
100%
Low Energy Electron Diffraction
66%
Reaction Temperature
33%
Liquid Film
33%
Auger Electron Spectroscopy
33%
Nickel
33%
Material Science
Surface
100%
Ultrathin Films
100%
Low-Energy Electron Diffraction
66%
Temperature
33%
Auger Electron Spectroscopy
33%
Thin Films
33%
Physics
Nickel
33%
Electron Spectroscopy
33%