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Characterizing spatio-temporal phase variation of pixelated liquid crystal on silicon using digital holographic microscopy

研究成果: 書貢獻/報告類型會議論文篇章

2   連結會在新分頁中打開 引文 斯高帕斯(Scopus)

摘要

A spatio-temporal measurement technique for observing the phase variation of the LCoS devices using digital holographic microscopy is proposed. The spatial distribution of phase variation in pixelated field was measured and characterized in millisecond scale.

原文英語
主出版物標題Digital Holography and Three-Dimensional Imaging, DH 2015
發行者Optical Society of America (OSA)
頁面410p
ISBN(電子)9781557529916
DOIs
出版狀態已發佈 - 2015 5月 18
事件Digital Holography and Three-Dimensional Imaging, DH 2015 - Shanghai , 中国
持續時間: 2015 5月 242015 5月 28

出版系列

名字Digital Holography and Three-Dimensional Imaging, DH 2015

其他

其他Digital Holography and Three-Dimensional Imaging, DH 2015
國家/地區中国
城市Shanghai
期間2015/05/242015/05/28

ASJC Scopus subject areas

  • 原子與分子物理與光學
  • 電氣與電子工程
  • 電子、光磁材料
  • 電腦繪圖與電腦輔助設計

指紋

深入研究「Characterizing spatio-temporal phase variation of pixelated liquid crystal on silicon using digital holographic microscopy」主題。共同形成了獨特的指紋。

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