Catastrophic degradation in quantum cascade lasers emitting at 8.4 μm

Y. Sin*, N. Presser, M. Brodie, Z. Lingley, S. C. Moss, J. Kirch, C. C. Chang, C. Boyle, L. J. Mawst, D. Botez, D. Lindberg, T. Earles

*此作品的通信作者

研究成果: 書貢獻/報告類型會議論文篇章

摘要

We report on catastrophic degradation in 8.4 μm InGaAs-InAlAs quantum cascade lasers using focused ion beam (FIB) and high-resolution transmission electron microscope (HR-TEM) techniques.

原文英語
主出版物標題Proceedings - 2014 Summer Topicals Meeting Series, SUM 2014
發行者Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
頁面75-76
頁數2
ISBN(電子)9781479927678
DOIs
出版狀態已發佈 - 2014 9月 18
對外發佈
事件2014 Summer Topicals Meeting Series, SUM 2014 - Montreal, 加拿大
持續時間: 2014 7月 142014 7月 16

出版系列

名字Proceedings - 2014 Summer Topicals Meeting Series, SUM 2014

會議

會議2014 Summer Topicals Meeting Series, SUM 2014
國家/地區加拿大
城市Montreal
期間2014/07/142014/07/16

ASJC Scopus subject areas

  • 電氣與電子工程
  • 原子與分子物理與光學
  • 電子、光磁材料
  • 訊號處理

指紋

深入研究「Catastrophic degradation in quantum cascade lasers emitting at 8.4 μm」主題。共同形成了獨特的指紋。

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