Breakdown model and lifetime projection for thin gate oxide MOS devices

  • Chuan H. Liu*
  • , Robert O. Grondin
  • , Thomas A. DeMassa
  • , Julian J. Sanchez
    • *此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻 › 會議論文 › 同行評審

指紋

深入研究「Breakdown model and lifetime projection for thin gate oxide MOS devices」主題。共同形成了獨特的指紋。

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