Breakdown model and lifetime projection for thin gate oxide MOS devices

Chuan H. Liu*, Robert O. Grondin, Thomas A. DeMassa, Julian J. Sanchez

*此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻 › 會議論文 › 同行評審

指紋

深入研究「Breakdown model and lifetime projection for thin gate oxide MOS devices」主題。共同形成了獨特的指紋。

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