Automated surface defect inspection based on autoencoders and fully convolutional neural networks

Cheng Wei Lei, Li Zhang, Tsung Ming Tai, Chen Chieh Tsai, Wen Jyi Hwang*, Yun Jie Jhang

*此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審

4 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Automated surface defect inspection based on autoencoders and fully convolutional neural networks」主題。共同形成了獨特的指紋。

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