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Anomalous behavior of LEED beam intensity during annealing

  • Tsu Yi Fu
  • , T. F. Liu
  • , C. W. Su
  • , C. S. Shern
  • , R. H. Chen

研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審

指紋

深入研究「Anomalous behavior of LEED beam intensity during annealing」主題。共同形成了獨特的指紋。
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