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Analysis and modeling of nano-crystalline silicon TFTs on flexible substrate with mechanical strain
M. H. Lee
*
, S. T. Chang, B. F. Hsieh, J. J. Huang, C. C. Lee
*
此作品的通信作者
光電工程學士學位學程
研究成果
:
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期刊論文
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同行評審
2
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Analysis and modeling of nano-crystalline silicon TFTs on flexible substrate with mechanical strain」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
INIS
bending
33%
density
33%
density of states
33%
distribution
33%
gauss function
33%
layers
33%
modeling
100%
reliability
33%
silicon
100%
strains
100%
substrates
100%
traps
33%
Engineering
Acceptor
33%
Active Layer
33%
Crystalline Silicon
100%
Density
33%
Density of State
33%
Development
33%
Exponential Distribution
33%
Flexible Electronics
33%
Mechanical Strain
100%
Nanocrystalline
100%
Reliability Issue
33%
Material Science
Bending
33%
Density
66%
Electronics
33%
Flexible Substrate
100%
Nanocrystalline Silicon
100%
Strain
100%
Biochemistry, Genetics and Molecular Biology
Density
100%
Development
50%
Gaussian Distribution
50%