Achieving high-scalability negative capacitance FETs with uniform Sub-35 mV/dec switch using dopant-free hafnium oxide and gate strain

Chia Chi Fan, Chun Hu Cheng, Chun Yuan Tu, Chien Liu, Wan Hsin Chen, Tun Jen Chang, Chun Yen Chang

研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章

15 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Achieving high-scalability negative capacitance FETs with uniform Sub-35 mV/dec switch using dopant-free hafnium oxide and gate strain」主題。共同形成了獨特的指紋。

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