A comprehensive study of inversion current in MOS tunneling diodes

C. H. Lin, B. C. Hsu, M. H. Lee, C. W. Liu*

*此作品的通信作者

研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審

34 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「A comprehensive study of inversion current in MOS tunneling diodes」主題。共同形成了獨特的指紋。

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