A comparative study of microstructure of RuO2 nanorods via Raman scattering and field emission scanning electron microscopy
R. S. Chen, C. C. Chen, Y. S. Huang*, C. T. Chia, H. P. Chen, D. S. Tsai, K. K. Tiong
*此作品的通信作者
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引文
斯高帕斯（Scopus）