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A comparative study of microstructure of RuO
2
nanorods via Raman scattering and field emission scanning electron microscopy
R. S. Chen
, C. C. Chen
, Y. S. Huang
*
,
C. T. Chia
, H. P. Chen
, D. S. Tsai
, K. K. Tiong
*
此作品的通信作者
物理學系
研究成果
:
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同行評審
32
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引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「A comparative study of microstructure of RuO
2
nanorods via Raman scattering and field emission scanning electron microscopy」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
INIS
microstructure
100%
scanning electron microscopy
100%
nanostructures
100%
raman effect
100%
field emission
100%
ruthenium oxides
100%
correlations
33%
shape
33%
information
16%
volume
16%
length
16%
size
16%
images
16%
asymmetry
16%
matrices
16%
substrates
16%
chemical vapor deposition
16%
organometallic compounds
16%
red shift
16%
polycrystals
16%
Engineering
Nanorod
100%
Field-Emission Scanning Electron Microscopy
100%
Raman Spectra
100%
Phase System
50%
Spatial Correlation
33%
Vapor Deposition Method
16%
Broadening
16%
Metal Organic Chemical Vapor Deposition
16%
Correlation Length
16%
Correlation Model
16%
Raman Lineshape
16%
Characterization Method
16%
Polycrystalline
16%
Line Shape
16%
Chemistry
Field Emission Scanning Electron Microscopy
100%
Raman Spectra
100%
Nanorod
100%
Lineshape
33%
Metal-Organic Chemical Vapor Deposition
16%
Material Science
Nanorod
100%
Field Emission Scanning Electron Microscopy
100%
Lineshape
33%
Metal-Organic Chemical Vapor Deposition
16%
Volume Fraction
16%
Earth and Planetary Sciences
Binary Systems (Materials)
75%
Physics
Binary Systems (Materials)
50%
Red Shift
16%