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學生論文
2xVDD-Tolerant ESD Clamp with Dual Detection and Ultra-Low Leakage
Kuan Ying Chen
, Shih Hsin Wu
, Po Xiao Chen
,
Chun Yu Lin
*
*
此作品的通信作者
研究成果
:
雜誌貢獻
›
期刊論文
›
同行評審
總覽
指紋
指紋
深入研究「2xVDD-Tolerant ESD Clamp with Dual Detection and Ultra-Low Leakage」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
INIS
detection
100%
leakage
100%
electrostatics
100%
power
71%
leakage current
57%
protection
28%
reliability
28%
levels
14%
design
14%
stability
14%
humans
14%
increasing
14%
operation
14%
energy efficiency
14%
temperature range 0273-0400 k
14%
voltage
14%
neptunium nitrides
14%
Engineering
Electrostatic Discharge
100%
Power Rail
28%
Human Body Model
14%
Term Stability
14%
Energy Dissipation
14%
Room Temperature
14%
Conservation of Energy
14%
Material Science
Electronic Circuit
100%