2 X VDD-tolerant power-rail ESD clamp circuit with low standby leakage in 65-nm CMOS process

Chun-Yu Lin, Ming Dou Ker

研究成果: 書貢獻/報告類型會議貢獻

2 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋 深入研究「2 X VDD-tolerant power-rail ESD clamp circuit with low standby leakage in 65-nm CMOS process」主題。共同形成了獨特的指紋。

Engineering & Materials Science