摘要
我們利用液相的合成方式,製備不同大小及不同表面性質的硒化鎘半導體奈米晶體,這些晶體吸收峰的故長,會隨著晶體大小改變而變化,同時,不同大小的晶體,也展現出不同的發光波長。我們也使用微米轉印技術在金片上製作規則自組裝薄膜(SAMs),並利用原子力顯微鏡觀察其規則圖形。藉由橫向力顯微術(LFM)的探針和樣品表面之間有不同的作用力,來觀察自組裝薄膜末端官能基(親水及疏水性)的兩種不同區域所產生的影像差異。我們在此自組裝薄膜上,經由溶液沈積的方式,接上不同表面性質的硒化鎘奈米晶體,並由原子力顯微術(AFM)影像得知,硒化鎘奈米晶體確實在自組裝薄膜的表面形成單層膜;而在橫向力顯微術的影像中顯現出清楚對比,表示硒化鎘奈米晶體的確因晶體外圍界面活性劑及自組裝薄膜表面親水、疏水性質不同,而成功地沈積在基材表面。再由力調變顯微術(FMM)觀察得知:硒化鎘奈米晶體沈積區域硬度較未接上奈米晶體之自組裝薄膜區域硬度大。
原文 | 繁體中文 |
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頁(從 - 到) | 223-234 |
頁數 | 12 |
期刊 | 化學 |
卷 | 56 |
發行號 | 3 |
DOIs | |
出版狀態 | 已發佈 - 1998 |
Keywords
- 半導體奈米晶體
- 自組裝薄膜
- 原子力掃描電子顯微鏡
- 硒化鎘
- 硒化鎘薄膜
- 硒化鎘奈米晶
- Semiconductor Nanocrystals
- Self Assembled Monolayers
- CdSe
- CdSe Monolyaers
- CdSe Nanocrystals