每年專案
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過去五年中的合作和熱門研究領域
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專案
- 7 已完成
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3xVDD-tolerant power-rail ESD clamp circuit for negative mixed-voltage interfaces
Cheng, H. E., Wu, C. L. & Lin, C. Y., 2025 11月, 於: Solid-State Electronics. 229, 109185.研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審
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Dependence of N-Well Guard Ring Bias on Latch-up Failure Level in a HV/LV Mixed-Voltage CMOS IC
Ker, C. C., Hsu, C. W., Lin, C. Y., Ker, M. D., Wang, C. C. & Chiang, T. Y., 2025, 2025 International VLSI Symposium on Technology, Systems and Applications, VLSI TSA 2025 - Proceedings of Technical Papers. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., (2025 International VLSI Symposium on Technology, Systems and Applications, VLSI TSA 2025 - Proceedings of Technical Papers).研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章
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A Bidirectional ESD Protection Circuit with High Reliability and Low Leakage for Consumer Electronic Products
Chen, C. C. & Lin, C. Y., 2024, 11th IEEE International Conference on Consumer Electronics - Taiwan, ICCE-Taiwan 2024. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., p. 793-794 2 p. (11th IEEE International Conference on Consumer Electronics - Taiwan, ICCE-Taiwan 2024).研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章
1 引文 斯高帕斯（Scopus） -
All-nMOS Power-Rail ESD Clamp Circuit with Compact Area and Low Leakage
Hsieh, C. Y. & Lin, C. Y., 2024, 於: IEEE Transactions on Electron Devices. 71, 9, p. 5205-5211 7 p.研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審
1 引文 斯高帕斯（Scopus） -
Characterization of ESD-induced electromigration on CMOS metallization in on-chip ESD protection circuit
Hou, Y. S. & Lin, C. Y., 2024 2月 29, 於: Japanese Journal of Applied Physics. 63, 2, 02SP58.研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審
3 引文 斯高帕斯（Scopus）