每年專案
指紋
查看啟用 Chun-Yu Lin 的研究主題。這些主題標籤來自此人的作品。共同形成了獨特的指紋。
- 9 類似的個人檔案
過去五年中的合作和熱門研究領域
國家/地區層面的近期外部共同作業。按一下圓點深入探索詳細資料，或
專案
- 7 已完成
-
A Bidirectional ESD Protection Circuit with High Reliability and Low Leakage for Consumer Electronic Products
Chen, C. C. & Lin, C. Y., 2024, 11th IEEE International Conference on Consumer Electronics - Taiwan, ICCE-Taiwan 2024. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., p. 793-794 2 p. (11th IEEE International Conference on Consumer Electronics - Taiwan, ICCE-Taiwan 2024).研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章
-
All-nMOS Power-Rail ESD Clamp Circuit with Compact Area and Low Leakage
Hsieh, C. Y. & Lin, C. Y., 2024, 於: IEEE Transactions on Electron Devices. 71, 9, p. 5205-5211 7 p.研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審
1 引文 斯高帕斯（Scopus） -
Characterization of ESD-induced electromigration on CMOS metallization in on-chip ESD protection circuit
Hou, Y. S. & Lin, C. Y., 2024 2月 29, 於: Japanese Journal of Applied Physics. 63, 2, 02SP58.研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審
2 引文 斯高帕斯（Scopus） -
Study of Silicide Blocking for GGNMOS Performance and Turn-On Time in CMOS Process
Chien, E. W., Cheng, H. E. & Lin, C. Y., 2024, 11th IEEE International Conference on Consumer Electronics - Taiwan, ICCE-Taiwan 2024. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., p. 787-788 2 p. (11th IEEE International Conference on Consumer Electronics - Taiwan, ICCE-Taiwan 2024).研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章
-
ESD Research of SCR Devices under Harsh Environments
Lin, C. C. & Lin, C. Y., 2023 9月, 於: Materials. 16, 18, 6182.研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審
開啟存取