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編者言
搜尋結果
2018
Editorial: IEDMS 2016
Liu, C. H.
,
Cheng, C. H.
,
Cheng, C. P.
& Liou, J. J.,
2018 4月
,
於:
Microelectronics Reliability.
83
,
p. 207
1 p.
研究成果
:
雜誌貢獻
›
編者言
›
同行評審
Wide Bandgap Materials for Semiconductor Devices
Lee, K. W.,
Liu, C. H.
& Misra, D.,
2018 12月
,
於:
Microelectronics Reliability.
91
,
p. 306
1 p.
研究成果
:
雜誌貢獻
›
編者言
›
同行評審
1
引文 斯高帕斯(Scopus)