WISC-Ⅲ分測驗散布度研究:各指標之信度、相關與基本率呈現

Research output: Contribution to journalArticle

Abstract

傳統研究指出測驗散布度(Intersubtest scatter)是腦功能异常的可能指標。本研究統整相關文獻,分析四種魏氏分測驗布度指標:「全距」、「剖面變异度」、「與平均數達顯著差异分測驗數目」及「全距除以平均數」,探討指標之再測信度及相關。研究發現「全距除以平均數」有相對較高的穩定性,但與其他指標關聯較低。「與平均數達顯著差异分測驗數目」之再測信度相對最低,與其他指標相關亦不高;而「剖面變异度」表現則居中。本研究同時呈現臺灣WISC-Ⅲ常模在各指標所展現的多種基本率決斷值。文中對研究應用性有所討論,并對後續研究發展提出建議。
Original languageChinese
Pages (from-to)171-197
Number of pages27
Journal測驗學刊
Volume50
Issue number2
DOIs
Publication statusPublished - 2003

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