Performance of Item Exposure Control Methods in Computerized Adaptive Testing: Further Explorations

章 舜雯(Shun-Wen Chang), Timothy N.Ansley, 涂 柏原

Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

Abstract

本研究探討電腦適性測驗中試題曝光率控制法 the Sympson and Heuer conditional procedure(SHC法)對曝光率能有效控制的程度,並與其他兩種常用的方法--the Davey and Parshall procedure(DP法)與the Stocking and Lewis conditional multinomial procedure(SLC 法)的特性與功能作比較。整個研究採用電腦程式模擬電腦適性測驗程序,使用四個不同大小的題庫以及二種最大曝光率期望值進行。評鑑的標準包括最大曝光觀察值、試題重複出現率、題庫使用度、以及測量標準誤。另外,本研究亦針對估計曝光率控制參數所需之最小樣本數進行探討。結果顯示,SHC法最能控制試題曝光率至研究中之期望值以及降低試題重複出現率,其次是SLC法。而DP法對於題庫的使用度整體而言是最佳的。研究的結果提供了對曝光率控制法更清楚的認識。
Original languageEnglish
Pages (from-to)235-263
Number of pages29
Journal測驗年刊
Volume49
Issue number2
Publication statusPublished - 2002

Keywords

  • 電腦適性測驗
  • 曝光控制
  • 試題曝光率
  • 試題機密
  • computerized adaptive tests
  • exposure control
  • item exposure rate
  • test security

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