Abstract
本研究目的在分析特殊兒童間隔三年後再測智力分數之變化模式,並探討相關影響因素。研究者根據1980年代後發表文獻內,共三十九組使用WISC-R或WISC-III為工具之特殊兒童智力再測樣本,以統合分析進行量化統整。主要研究 發現如下:(1)間隔三年後,特殊學生智力表現的確有顯著變化;(2)智力再測分數之改變模式(方向與差異程度)依學生障礙類別而有不同,其中學障(LD)和智障(MR)學生的語文智商有下降趨勢,而學障與情緒行為異常(EBD)學生之作業智商則顯著上升;(3)學障兒童智力分數改變程度受到學生年齡、起始能力、再測間隔時間、以及測驗新舊版本等中介變項影響。文中並對未來研究方向提出建議與討論。
Original language | Chinese (Traditional) |
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Pages (from-to) | 115-133 |
Number of pages | 19 |
Journal | 師大學報:教育類 |
Volume | 52 |
Issue number | 2 |
DOIs | |
Publication status | Published - 2007 |
Keywords
- 特殊兒童
- 統合分析
- 再測
- 魏氏兒童智力量表
- exceptional children
- meta-analysis
- retesting
- WISC-III
- WISC-R